• SiC晶圓高溫老化測試
• SiC晶圓高溫老化測試系統(tǒng)

• 高溫偏置類老化系統(tǒng)
• 高溫反偏（HTRB/HTGB）
• 動(dòng)態(tài)高溫反偏/柵偏(DHTRB/DHTGB)
• 高溫高濕（H3TRB）
• 高加速壽命試驗(yàn)（HAST）

• 正向功率老化系統(tǒng)
• 間歇壽命試驗(yàn)（IOL）
• 功率循環(huán)（Power Cycling）
• 無功功率試驗(yàn)系統(tǒng)
• 高低溫功率循環(huán)（PTC）
• 更多>>
• 二極管可靠性試驗(yàn)系統(tǒng)

• 集成電路老化測試系統(tǒng)
• 集成電路（HTOL-IC）

• 電源模塊/繼電器
• 電源模塊（能量反饋型）
• 繼電器高溫老化系統(tǒng)
• 其他More

• 產(chǎn)線型自動(dòng)老化系統(tǒng)
• IGBT模塊高溫阻斷自動(dòng)老化產(chǎn)線
• 無功功率老化測試自動(dòng)化產(chǎn)線
• 自動(dòng)上下料機(jī)

• 電容器高溫試驗(yàn)設(shè)備
• 電容器可靠性試驗(yàn)

• 微波器件 老化試驗(yàn)
• 微波功率器件直流老化
• 微波功率器件射頻老化

• 配件系列
• 老化測試座
• 老化板
• 夾具/治具
• 迪派大功率直流電源
• 連接器

• 半導(dǎo)體分立器件可靠性試驗(yàn)
• MOSFET可靠性試驗(yàn)
• 三極管可靠性解決方案
• 電子產(chǎn)品為什么要老化

• IGBT行業(yè)可靠性解決方案
• IGBT器件可靠性解決方案

• 第三代半導(dǎo)體可靠性解決方案
• 氮化鎵GaN
• 碳化硅SiC

• IPM器件可靠性試驗(yàn)方案
• IPM器件

• 自動(dòng)老化線
• 自動(dòng)老化線

• IC芯片可靠性試驗(yàn)解決方案
• 設(shè)計(jì)驗(yàn)證

• 第三方實(shí)驗(yàn)室整體籌建解決方案
• 第三方實(shí)驗(yàn)室整體籌建解決方案

• 老煉行業(yè)數(shù)字化智能物聯(lián)平臺(tái)
• 高可靠智能物聯(lián)平臺(tái)