High&Low Temp. Surge Burn-in System
系統(tǒng)能滿足鉭電容器等類型的各種封裝形式（包括SMT表面貼裝）電容器的高低溫浪涌試驗(yàn)。
設(shè)備采用一體化設(shè)計(jì)，高低溫試驗(yàn)箱和試驗(yàn)控制檢測(cè)系統(tǒng)為一體化系統(tǒng)，固定連接穩(wěn)定可靠，
試驗(yàn)時(shí)只需將試驗(yàn)板插入高低溫箱中的接頭，即可通過(guò)控制系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對(duì)器件的自動(dòng)試驗(yàn)，系統(tǒng)有自動(dòng)保護(hù)和記錄功能。
設(shè)備采用插板式方式(156芯總線)，方便更換不同型號(hào)的試驗(yàn)板和試驗(yàn)座。
設(shè)備提供20個(gè)試驗(yàn)通道模塊，可同時(shí)進(jìn)行20個(gè)不同品種電容器的試驗(yàn)，每個(gè)通道模塊都有獨(dú)立的保護(hù)措施。
在線實(shí)時(shí)檢測(cè)充電電流，并顯示檢測(cè)到的最大充電電流,對(duì)失效器件進(jìn)行實(shí)時(shí)保護(hù)并進(jìn)行記錄，防止器件的燒毀。
The system can perform high&low temp. surge test for tantalum capacitor in various packages(including SMT);
Unibody design: Chamber and Control detection system are integrated systems, with stable and reliable fixed connection,
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