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產(chǎn)品詳情

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BTD-T886(光電器件/光通訊模塊)

光電耦合器老化系統(tǒng)(OC)

統(tǒng)能滿足各種封裝形式（包括SMD表面貼裝）和光電耦合器、發(fā)光二極管等元器件的穩(wěn)態(tài)壽命試驗和功率老煉篩選。系統(tǒng)的整個試驗過程采樣程控方式進(jìn)行，對溫度與電源進(jìn)行程控調(diào)節(jié)。系統(tǒng)對產(chǎn)品的輸入端進(jìn)行老練與高溫反偏，通過調(diào)整輸入端不同條件來模擬產(chǎn)品的不同使用過程，全程監(jiān)控產(chǎn)品的漏電流與電壓，溫度等參數(shù)。

┃ 高溫試驗箱	R.T.~（175℃ / 200℃）；溫度均勻性：150℃±3℃(空載)；

┃ 容量	16個試驗通道；單板64個工位 / 整機1024工位（視具體情況而定）；

┃ 試驗電源	配置16臺（一臺電源對應(yīng)一個試驗區(qū)）Max 100.0V；

┃ 驅(qū)動板數(shù)量	16塊；
	電壓檢測范圍：輸入端：0V～100V,分辨率：0.01V
	電流檢測范圍： 1.0mA～250.0mA,分辨率：0.01mA 脈沖頻率范圍：10.0kHz~100.0kHz，占空比50%；

產(chǎn)品參數(shù)

試驗腔: 型號

風(fēng)冷卻試驗腔 * 2個; 試驗腔尺寸

600*330*610(mm); 風(fēng)道設(shè)計

水平橫向循環(huán)風(fēng)道設(shè)計; 試驗溫度范圍

室溫

容量: 獨立試驗區(qū)數(shù)量

標(biāo)配4個（可增至8個區(qū)）; 試驗通道

16個; 總?cè)萘?

整機老化發(fā)光二極管時為1024個（串聯(lián)時更多）；整機老化光電耦合器時，單光耦為896個，雙光耦為448個，四光耦為228個（串聯(lián)時更多）

試驗電源: 試驗電源數(shù)量

標(biāo)配4臺（可增至8臺）; 試驗電源量程

20V/60A、30V/40A、40V/30A等

驅(qū)動檢測板: 驅(qū)動板數(shù)量

16塊; 試驗電壓檢測

范圍：0.0V～50.0V；精度：±1％＋0.1V; 試驗電流檢測

范圍：0.0mA～200.0mA；精度：±(1％＋1LSB); 電子負(fù)載數(shù)量

單通道56路 / 整機896路; 負(fù)載電流范圍

0～200mA

老化板: 基板材質(zhì)

標(biāo)配高Tg基板; 老化座

老化座Socket均采用耐高溫、抗氧化、耐疲勞材料; 老化板尺寸

290*460(mm)

整機信息: 尺寸

1300W*1200D*1900H(mm); 電網(wǎng)要求

A.C.220V±10％ / 50Hz; 功率 / 重量

8KW / 600KG

其他型號

了解中安: 研發(fā)&制造; 售后支持; 銷售服務(wù)