滿足對(duì)IGBT模塊的熱阻測(cè)試。
┃ 溫度范圍 | +10℃~200℃;溫度波動(dòng)度:<±0.1℃ |
┃ 容量 | 1個(gè)測(cè)試通道,一次可同時(shí)測(cè)試4顆器件;加載1種的IM測(cè)試電流; |
┃ 恒流源 | 1路恒流源Im;1.0~500.0mA;精度:±0.5mA; |
┃ 驅(qū)動(dòng)板數(shù)量 | 柵極電源Vg 4路;-10.00V~+20.00V; 精度:±(0.5%FS+0.25%量程值) |
Vce電壓檢測(cè) 0.00~4.000V;精度:±(1% rdg.+0.01V) | |
Vg檢測(cè) -10.00V~+20.00V;精度:±(1% rdg.+0.01V) | |
殼溫控制精度 室溫~200℃; 精度:±(1% rdg.+1℃) | |
Im電流檢測(cè) 5mA~500mA; 精度:±(1% rdg.+0.5mA) |