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0571-85123400
中安
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T338A(IGBT+SiC模塊)
無(wú)功功率老化測(cè)試系統(tǒng)/自動(dòng)老化產(chǎn)線

適用100A~500A的IGBT/SiC模塊的老化測(cè)試篩選,可以模擬各種工況條件,

如啟動(dòng)電流、運(yùn)行電流、堵轉(zhuǎn)電流等,對(duì)DUT器件進(jìn)行動(dòng)態(tài)功率循環(huán)測(cè)試,

顯示各種工況下的電壓、電流、溫度等信息。

快速篩選出不合格的芯片和封裝工藝缺陷,提高產(chǎn)品的使用可靠性。

設(shè)備采用模塊化設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用和維護(hù)方便。

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